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首頁 > 產(chǎn)品中心 > 失效分析>汽車 > 試驗(yàn)服務(wù)AEC-Q102產(chǎn)品試驗(yàn)第三方檢測機(jī)構(gòu)

AEC-Q102產(chǎn)品試驗(yàn)第三方檢測機(jī)構(gòu)

簡要描述:

車燈是整車的重要組件,圍繞車燈及其附件的可靠性試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)紛繁復(fù)雜,各主機(jī)廠的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)均有不同描述,通用性較差。廣電計(jì)量AEC-Q102產(chǎn)品試驗(yàn)第三方檢測機(jī)構(gòu)提供全面的認(rèn)證計(jì)劃、測試等服務(wù)。

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更新日期:2024-09-04

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AEC-Q102產(chǎn)品試驗(yàn)第三方檢測機(jī)構(gòu)
品牌廣電計(jì)量加工定制
服務(wù)區(qū)域全國服務(wù)周期常規(guī)3-5天
服務(wù)類型元器件篩選及失效分析服務(wù)資質(zhì)CMA/CNAS認(rèn)可
證書報(bào)告中英文電子/紙質(zhì)報(bào)告增值服務(wù)可加急檢測
是否可定制是否有發(fā)票

AEC-Q102產(chǎn)品試驗(yàn)第三方檢測機(jī)構(gòu)服務(wù)背景

由福特、克萊斯勒、通用組成的汽車電子委員會(AEC)頒布了光電器件的可靠性標(biāo)準(zhǔn)AEC-Q102,對光電器件的可靠性展開了嚴(yán)格的測試要求,為主機(jī)廠提供了可靠性高、使用壽命長的光電器件。廣電計(jì)量AEC-Q技術(shù)團(tuán)隊(duì),執(zhí)行過大量的AEC-Q測試案例,積累了豐富的認(rèn)證試驗(yàn)經(jīng)驗(yàn),可為您提供更專業(yè)、更可靠的測試服務(wù),同時(shí)我們也提供LED、光電二極管、晶體管、激光器件的環(huán)境試驗(yàn)服務(wù)。

車燈是整車的重要組件,圍繞車燈及其附件的可靠性試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)紛繁復(fù)雜,各主機(jī)廠的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)均有不同描述,通用性較差。


測試周期

2-3個(gè)月,提供全面的認(rèn)證計(jì)劃、測試等服務(wù)


AEC-Q102產(chǎn)品試驗(yàn)第三方檢測機(jī)構(gòu)產(chǎn)品范圍

LED燈珠、光電二極管、光電晶體管、激光組件


測試項(xiàng)目

序號

測試項(xiàng)目

縮寫

樣品數(shù)/批

批數(shù)

測試方法

1

Pre- and Post-Stress Electrical and Photometric Test

TEST

所有應(yīng)力試驗(yàn)前后均進(jìn)行測試

用戶規(guī)范

2

Pre-conditioning

PC

SMD產(chǎn)品在WHTOL、TC、PTC試驗(yàn)前預(yù)處理

JESD22-A113

3

External Visual

EV

每項(xiàng)試驗(yàn)前后均進(jìn)行測試,除DPA和尺寸測試

JESD22-B101

4

Parametric Verification

PV

25

3 Note A

用戶規(guī)范

5a

High Temperature Operating Life

HTOL1

26

3 Note B

JESD22-A108

5b

High Temperature Operating Life

HTOL2

26

3 Note B

JESD22-A108

5c

High Temperature Reverse Bias

HTRB

26

3 Note B

JESD22-A108

6a

Wet High Temperature Operating Life

WHTOL1

26

3 Note B

JESD22-A101

6b

Wet High Temperature Operating Life

WHTOL2

26

3 Note B

JESD22-A101

6c

High Humidity High Temperature Reverse Bias

H3TRB

26

3 Note B

JESD22-A101

7

Temperature Cycling

TC

26

3 Note B

JESD22-A104

8a

Power Temperature Cycling

PTC

26

3 Note B

JESD22-A105

8b

Intermittent Operational Life

IOL

26

3 Note B

MIL-STD-750-1 Method 1037

9

Low Temperature Operating Life

LTOL

26

3 Note B

JESD22-A108

10a

Electrostatic Discharge Human Body Model

HBM

10

3

JS-001

10b

Electrostatic Discharge Charged Device Model

CDM

10

3

AEC Q101-005

11

Destructive Physical Analysis

DPA

2/試驗(yàn)

1

Appendix 6

12

Physical Dimension

PD

10

3

JESD22-B100

13

Terminal Strength

TS

10

3

MIL-STD-750-2 Method 2036

14

Constant Acceleration

CA

10

3

MIL-STD-750-2 Method 2006

15

Vibration Variable Frequency

VVF

JEDEC JESD22-B103

16

Mechanical Shock

MS

JEDEC JESD22-B104

17

Hermeticity

HER

JESD22-A109

18a

Resistance to Solder Heat

RSH (-reflow)

10

3

含鉛:JESD22-A113、J-STD-020

無鉛:AEC-Q005

18b

Resistance to Solder Heat

RSH (-wave)

10

3

含鉛:JESD22-B106

無鉛:AEC-Q005

19

Solderability

SD

10

3

含鉛:J-STD-002、JESD22-B102

無鉛:AEC-Q005

20

Pulsed Operating Life

PLT

26

3

JESD22-A108

21

Dew

DEW

26

3

JESD22-A100

22

Hydrogen Sulphide

H2S

26

3

IEC 60068-2-43

23

Flowing Mixed Gas

FMG

26

3

IEC 60068-2-60 Test method 4

24

Thermal Resistance

TR

10

1

JESD51-50、JESD51-51、JESD51-52

25

Wire Bond Pull

WBP

10

3

MIL-STD-750-2 Method 2037

26

Wire Bond Shear

WBS

10

3

AEC Q101-003

27

Die Shear

DS

5

3

MIL-STD-750-2 Method 2017

28

Whister Growth

WG

/

/

AEC Q005


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